Измеритель коэффициента битовых ошибок Anritsu MP2100B BERTWave, анализатор сигналов, глазковых и импульсных диаграмм, стробоскопический осциллограф
Документация производителя:
Тест система BERTWave MP2100B объединяет в одном корпусе измеритель частоты появления ошибочных битов (BER), стробоскопический осциллограф, поддерживающий оценку оптических модулей, включая измерения BER, анализ маски и параметров глазковой диаграммы и т.д.
Измеритель частоты появления ошибочных битов и стробоскопический осциллограф необходимые измерительные приборы для оценки оптических модулей, применяемых в телекоммуникационных системах. Ранее оценка оптических модулей, таких как QSFP+ и SFP+ требовала наличия двух отдельных измерительных приборов (стробоскопического осциллографа и измерителя частоты появления ошибочных битов). Однако, BERTWave MP2100B решает эту проблему и включает возможность оценки BER от 1 до 4 каналов, а также опциональный осциллограф в компактном корпусе с глубиной 18 см, сокращая инвестиции в оборудование и сохраняя стендовое пространство. Кроме того, BERTWave MP2100B сокращает время измерений устраняя необходимость переключений кабеля при одновременном измерении BER, анализе маски и параметров глазковой диаграммы. В дополнение ко всему наличие порта SFP+ обеспечивает поддержку измерения BER в оптических линиях.
BERTWave MP2100B поддерживает измерение BER на скоростях от 125 Мбит/с до 12,5 Гбит/с, опция для измерения BER в 4 каналах обеспечивает простую настройку системы для многоканальных модулей, таких QSFP+ и активных оптических кабелей (AOC). Кроме того, в дополнение к поддержке измерения BER для дифференциальных сигналов, измеритель также поддерживает анализ маски и параметров глазковой диаграммы.
Стробоскопический осциллограф в BERTWave MP2100B имеет полосу 25 ГГц для электрических сигналов и 9 ГГц для оптических. Дополнительно могут быть встроены до шести фильтров Бесселя для измерения оптических сигналов с использованием осциллографа. Использование данных фильтров обеспечивает поддержку в MP2100B измерений коэффициента затухания, анализа маски и параметров глазковой диаграммы в различных областях применения. Кроме того, осциллограф имеет режим быстрой выборки для обеспечения высокоскоростных измерений с частотой выборки до 150 квыб/с, что в 1,5 раза быстрее устаревших моделей. Также осциллограф поддерживает высокоскоростной анализ маски и параметров глазковой диаграммы.
Программное обеспечение MX210001A для анализа джиттера облегчает одновременный анализ джиттера, маски и параметров глазковой диаграммы, а скорость выборки в 150 квыб/с позволяет еще более эффективно использовать время для измерений. Совместное применение с MATLAB® обеспечивает поддержку измерения дисперсии специфических сигналов, таких как WDP, TWDP и dWDP.
Программное обеспечение MX210002A для анализа S-параметров устройств добавляет функции анализа параметров передачи устройств (усиление S21 и фазовый сдвиг), функцию исключающего моделирования сигнала с помощью линейного эквалайзера, фильтра и расчета предыскажений. Поддержка одновременной дискретизации сигнала и моделирования, как и измерений маски и параметров глазковой диаграммы.
Совместное использование с программным обеспечением MX210001A также позволяет одновременно измерять джиттер моделируемых сигналов.
MATLAB® является зарегистрированной торговой маркой MathWorks Inc.
Особенности
- Встроенные 4-х канальный измеритель частоты появления ошибочных битов и стробоскопический осциллограф;
- Одновременное измерение частоты появления ошибочных битов (BER) в 4х каналах;
- Высококачественный генератор импульсов (джиттер 1 пс, RMS);
- Высокая чувствительность по входу (минимальная чувствительность по входу 10 мВ (пик-пик));
- Высокоскоростной анализ маски и параметров глазковой диаграммы;
- Поддерживает измерения BER дифференциальных сигналов, анализ маски и параметров глазковой диаграммы;
- До шести фильтров Бесселя для полнофункциональной поддержки различных задач;
- Компактный корпус (глубина 18 см) тест системы для оценки оптических модулей;
- Одновременное измерение BER, джиттера, маски и параметров глазковой диаграммы;
- Поддержка измерений WDP;
- Расчет оптимальных значений для выборки с эквалайзером и значений предыскажений для отображения глазковой диаграммы;
- Одновременные измерения маски, параметров глазковой диаграммы и джиттера моделируемых сигналов.
Функции
- Сокращенное время измерений;
- Полноценная поддержка множества задач;
- Генератор импульсов высокого качества (PPG) и высокочувствительный детектор ошибок (ED);
- Функция анализа джиттера;
- Функция анализа параметров передачи.
Области применения
- Измерения 40 Гбит/с QSFP+ (4 x 10 Гбит/с);
- Измерения активного оптического кабеля (AOC);
- Оценка устройства PON BOB (BOSA On Board);
- Измерения с прямым подключением кабеля (DAC);
- Эмуляция эффекта предыскажений.
Сведения о реестре СИ
Номер в Госреестре | Наименование СИ | Обозначение типа СИ | Изготовитель | Срок свидетельства или заводской номер |
---|---|---|---|---|
не в реестре |
Номер в Госреестре | Наименование СИ | Обозначение типа СИ | Изготовитель | Срок свидетельства или заводской номер |
---|---|---|---|---|
не в реестре |
Измеритель частоты появления ошибочных битов
Рабочая скорость передачи данных |
с MP2100B-092 |
без MP2100B-092 |
Генератор последовательностей импульсов, детектор ошибок: изменяемая скорость передачи данных (шаг 1 кбит/с) от 125 Мбит/с до 12.5 Гбит/с |
Генератор последовательностей импульсов, детектор ошибок: изменяемая скорость передачи данных (шаг 1 кбит/с) от 8.5 Гбит/с до 11.32 Гбит/с рабочая скорость передачи данных 1/N N=2: 4.25 Гбит/с до 5.66 Гбит/с N=4: 2.125 Гбит/с до 2.83 Гбит/с N=8: 1.0625 Гбит/с до 1.415 Гбит/с N=16: 531.25 Мбит/с до 707.5 Мбит/с N=32: 265.625 Мбит/с до 353.75 Мбит/с N=64: 132.813 Мбит/с до 176.875 Мбит/с |
|
Испытательная последовательность |
Псевдослучайная битовая последовательность (PRBS): 27-1, 29-1, 215-1, 223-1, 231-1 (инверсия вкл/выкл) Пользовательские данные: программируемые 1.3 Мбит/с (файл пользовательской последовательности, такой как CJPA, и др.) |
|
Электрический выход данных |
Data, Xdata |
|
Амплитуда |
0.1 В пик-пик до 0.8 В пик-пик |
|
Электрический вход данных |
Data, Xdata |
|
Оптический вход данных |
Оптические данные |
|
Диапазон длин волн |
750 нм до 1650 нм |
Стробоскопический осциллограф
Полоса (–3 дБ) |
Электрическая: DC до 20 ГГц минимум, DC до 25 ГГц типичная; Оптическая: DC до 9 ГГц (типичная, по электрическому уровню –3 дБ без фильтра) |
Экран |
Глазковая диаграмма, импульсная диаграмма, когерентная глазковая диаграмма |
Измерительные функции |
Статистическая (инверсное кодирование без возврата к нулю (NRZ)), гистограмма, соответствие маске |
Скорость выборки |
Обычная: 100 квыб/с (типичная) Режим быстрой выборки: 150 квыб/с (макс.) |
Оптический вход данных (опция 023) |
Оптические данные |
Диапазон длин волн |
750 нм до 1650 нм |
Восстановление синхронизации (опция 055) |
0.1 ГГц до 2.7 ГГц, 8.5 ГГц до 12.5 ГГц |